Сяргей Мірзоевіч Авакаў
Сяргей Мірзоевіч Авакаў | |
---|---|
Дата нараджэння | 1955 |
Месца нараджэння | |
Грамадзянства | |
Род дзейнасці | выкладчык універсітэта |
Месца працы | |
Навуковая ступень | доктар тэхнічных навук (2008) |
Навуковае званне |
|
Альма-матар | |
Прэміі | |
Узнагароды |
Сяргей Мірзоевіч Авакаў (нар. 1955, г. Мінск) — беларускі спецыяліст у галіне тэхналогіі і абсталявання паўправаднікоў, матэрыялаў і прыбораў электроннай тэхнікі. Доктар тэхнічных навук (2008), прафесар.
Біяграфія[правіць | правіць зыходнік]
Скончыў Мінскі радыётэхнічны інстытут (спецыяльнасць «Аўтаматызаваныя сістэмы кіравання», 1977).
Працаваў у ААТ «КБТЭМ-ОМА» (Мінск; з 1984, вядучы канструктар, начальнік лабараторыі, аддзела, намеснік галоўнага інжынера па электроніцы, тэхнічны дырэктар, галоўны канструктар кантрольна-вымяральнага абсталявання, з 2007 — дырэктар), адначасова выкладчыкам Беларускага дзяржаўнага ўніверсітэта інфарматыкі і радыёэлектронікі (факультэт камп’ютарнага праектавання, кафедра электроннай тэхнікі і тэхналогіі, прафесар).
Узнагароды[правіць | правіць зыходнік]
Лаўрэат Дзяржаўнай прэміі Рэспублікі Беларусь у галіне навукі і тэхнікі (2000, у аўтарскім калектыве) — за працу «Стварэнне і асваенне ў вытворчасці комплекса канкурэнтаздольнага прэцызійнага абсталявання для вырабу высокадакладных арыгіналаў тапалогій вырабаў электроннай тэхнікі».
Узнагароджаны медалём Францыска Скарыны (2013).
Прысвоена званне заслужанага работніка прамысловасці Рэспублікі Беларусь (2023)[1].
Літаратура[правіць | правіць зыходнік]
- Автоматический контроль топологии субмикронных планарных структур в производстве изделий микроэлектроники : диссертация … доктора технических наук : 05.27.06 : защищена 03.04.2008 : утверждена 25.06.2008 / Аваков Сергей Мирзоевич. — Минск, 2007.
- Основы теории систем автоматического управления : пособие / С. М. Аваков, В. П. Огер, О. В. Гуревич. — Минск, 2018.
- Методы устранения дефектов топологии интегральных микросхем на фотошаблонах / В. А. Беспалов [и др.] // Известия высших учебных заведений. Электроника. — 2008. — № 6. — С. 20—29.
- Специализированное оптико-механическое и контрольно-измерительное оборудование для промышленного производства изделий микросистемотехники / С. М. Аваков [и др.] // Нано- и микросистемная техника. — 2012. — № 8. — С. 7—14.