Сяргей Мірзоевіч Авакаў

З Вікіпедыі, свабоднай энцыклапедыі
Сяргей Мірзоевіч Авакаў
Дата нараджэння 1955
Месца нараджэння
Грамадзянства
Род дзейнасці выкладчык універсітэта
Месца працы
Навуковая ступень доктар тэхнічных навук (2008)
Навуковае званне
  • прафесар[d]
Альма-матар
Прэміі
Дзяржаўная прэмія Рэспублікі Беларусь
Узнагароды
медаль Францыска Скарыны
Заслужаны работнік прамысловасці Рэспублікі Беларусь

Сяргей Мірзоевіч Авакаў (нар. 1955, г. Мінск) — беларускі спецыяліст у галіне тэхналогіі і абсталявання паўправаднікоў, матэрыялаў і прыбораў электроннай тэхнікі. Доктар тэхнічных навук (2008), прафесар.

Біяграфія[правіць | правіць зыходнік]

Скончыў Мінскі радыётэхнічны інстытут (спецыяльнасць «Аўтаматызаваныя сістэмы кіравання», 1977).

Працаваў у ААТ «КБТЭМ-ОМА» (Мінск; з 1984, вядучы канструктар, начальнік лабараторыі, аддзела, намеснік галоўнага інжынера па электроніцы, тэхнічны дырэктар, галоўны канструктар кантрольна-вымяральнага абсталявання, з 2007 — дырэктар), адначасова выкладчыкам Беларускага дзяржаўнага ўніверсітэта інфарматыкі і радыёэлектронікі (факультэт камп’ютарнага праектавання, кафедра электроннай тэхнікі і тэхналогіі, прафесар).

Узнагароды[правіць | правіць зыходнік]

Лаўрэат Дзяржаўнай прэміі Рэспублікі Беларусь у галіне навукі і тэхнікі (2000, у аўтарскім калектыве) — за працу «Стварэнне і асваенне ў вытворчасці комплекса канкурэнтаздольнага прэцызійнага абсталявання для вырабу высокадакладных арыгіналаў тапалогій вырабаў электроннай тэхнікі».

Узнагароджаны медалём Францыска Скарыны (2013).

Прысвоена званне заслужанага работніка прамысловасці Рэспублікі Беларусь (2023)[1].

Літаратура[правіць | правіць зыходнік]

  • Автоматический контроль топологии субмикронных планарных структур в производстве изделий микроэлектроники : диссертация … доктора технических наук : 05.27.06 : защищена 03.04.2008 : утверждена 25.06.2008 / Аваков Сергей Мирзоевич. — Минск, 2007.
  • Основы теории систем автоматического управления : пособие / С. М. Аваков, В. П. Огер, О. В. Гуревич. — Минск, 2018.
  • Методы устранения дефектов топологии интегральных микросхем на фотошаблонах / В. А. Беспалов [и др.] // Известия высших учебных заведений. Электроника. — 2008. — № 6. — С. 20—29.
  • Специализированное оптико-механическое и контрольно-измерительное оборудование для промышленного производства изделий микросистемотехники / С. М. Аваков [и др.] // Нано- и микросистемная техника. — 2012. — № 8. — С. 7—14.

Зноскі